日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測

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產品名稱: 日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測

產品型號: UVR-T2

產品特點: 日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測UVR-T2
工業用途UV檢查儀UVR-T2于電氣?電子零件的封裝、膠合處理，
以及印刷線路板的印刷?干燥?裝配，其他行業殺菌作業時所使用的UV照射裝置的照射燈具的能量輸出管理。
根據本儀器的測定結果來調整輸送速度，以及調整照射燈的強度分布、更換期限等。
該儀器也適用于半導體、FPD、印刷線路板等印版工位所使用的曝光裝置的曝光燈管理。

日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測 的詳細介紹

日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測UVR-T2

產品概要

工業用途UV檢查儀UVR-T2于電氣?電子零件的封裝、膠合處理，
以及印刷線路板的印刷?干燥?裝配，其他行業殺菌作業時所使用的UV照射裝置的照射燈具的能量輸出管理。
根據本儀器的測定結果來調整輸送速度，以及調整照射燈的強度分布、更換期限等。
該儀器也適用于半導體、FPD、印刷線路板等印版工位所使用的曝光裝置的曝光燈管理。

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特點

? 使用耐熱構造的金屬殼體，因此能進行穩定測量。（帶防熱外殼）
? 搭載多種測定功能：實時照度測定、峰值測定、累計光量測定、偏差測定。
? 裝上遠程套裝（選配件）、可將光量探頭放置在別處進行遠程測定。
? 內置存儲卡、USB輸出、模擬輸出均為標準配置。
? 準許USB供電方式。
? 測定程序標準附屬。

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主要用途

? 各種UV照射裝置內UV燈具的保養與管理
? 曝光裝置
? 紫外線消毒裝置、殺菌裝置等
? 紫外線硬化裝置、清洗裝置
? 紫外線表面處理裝置
? 各種UV燈具研發部門、制造工位上的檢查與評價

日本topcon工業用UV檢查儀，曝光裝置檢測UVR-T2

技術規格

叁數項目	叁數值
叁數項目	UD-T25T2	UD-T36T2	UD-T40T2	UD-T3040T2
光亮采集	硅光二極管
光量探測窗直徑	φ5mm	φ3mm	φ3mm	φ3mm
波長測定區域	230 – 280nm	300 – 390nm	350 – 490nm	290 – 430nm
峰值靈敏度波長	約 254nm	約 350nm	約 410nm	–
照度測定范圍 (mW/cm2)	范圍1:0.01-30.0 范圍2:0.1-300.0 范圍3:1.0-3000.0	范圍1:0.02-60.0 范圍2:0.2-600.0 范圍3:2.0-6000.0	范圍1:0.01-30.0 范圍2:0.1-300.0 范圍3:1.0-3000.0	范圍1:0.02-60.0 范圍2:0.2-600.0 范圍3:2.0-6000.0
輻射照度精度保證范圍 (mW/cm2)	范圍1:1.5-30.0 范圍2:15.0-300.0 范圍3:150-3000.0	范圍1:3.0-60.0 范圍2:30.0-600.0 范圍3:300-6000.0	范圍1:1.5-30.0 范圍2:15.0-300.0 范圍3:150-3000.0	范圍1:3.0-60.0 范圍2:30.0-600.0 范圍3:300-6000.0
累計光量測定范圍 (mJ/cm2)	范圍1:0.01-999.99 范圍2:0.1-9999.9 范圍3:1.0-99999.0	范圍1:0.01-999.99 范圍2:0.1-9999.9 范圍3:1.0-99999.0	范圍1:0.01-999.99 范圍2:0.1-9999.9 范圍3:1.0-99999.0	范圍1:0.01-999.99 范圍2:0.1-9999.9 范圍3:1.0-99999.0
模擬輸出 1mV的輻照度 (mJ/cm2)	范圍1:0.015 范圍2:0.15 范圍3:1.5	范圍1:0.03 范圍2:0.3 范圍3:3.0	范圍1:0.015 范圍2:0.15 范圍3:1.0	范圍1:0.03 范圍2:0.3 范圍3:3.0
數據采樣	采樣時間: 50Hz(10ms), 60Hz(8.33ms) 采樣比例: 50Hz(50次/秒), 60Hz(60次/秒)
斜入射光特性	30° : ±5%以內, 60° : ±25%以內
校正精度(*1)	±2%以內
直線性(*2)	±3%以內
模擬信號輸出	0 – 2V
界面	USB 2.0
電源	7號干電池×3節 / USB供電
使用條件	溫度 : 10 – 60 ℃, 濕度 : 85% R.H. 以下 (且無凝露)
外形尺寸(W×D×H)(*3)	75×201×16mm
質量(3)(4)	320g